测试环境 ：CLASS 1000
测 试 机 ：J750EX/HD，3380P， DMX，93K，STS T4
探 针 台 ：TSK，OPUS
温度范围 ：-45℃~135℃
晶圆尺寸 ：6吋，8吋，12吋
特殊规格 ：可支持薄片，破损片，MPW晶圆等特殊测试
测试产品 ：数字、模拟、数模混合、射频、高速接口、MCU等各类集成电路
地址：中国江苏省扬州国家高新技术产业开发区吉安南路158号
电话：0514-89336688
